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            IC測試設備提供商

            集成電路測試設備制造的領跑者

            JHT參加2018美國半導體展會

            網站首頁    新聞動態    JHT參加2018美國半導體展會

                   2018年7月10號,JHT-Design參加了在San Francisco Mosco 會展中心舉辦的Semicon West 2018展會。在這個展會中,我們向所有來賓展示了IC撿置式自動測試分選設備EXCEED8016H的運行方式及功能。同時,我們也宣傳了IC撿置式自動測試分選設備EXCEED6080H以及超高密度開短路測試機OTS-05000。

             

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            2018年7月10日 10:10
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